シーズ情報詳細
1210004 ： 有限会社共同設計企画
| 案件番号 |
| 000108 |
| テーマ名 |
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光学式自動外観検査（AOI）
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シーズ情報
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| 概要 |
弊社独自開発の画像処理技術と特殊光学技術（微分干渉プリズム）で検査し、 ワークの状態の良否を全自動で高速かつ高精度に判定します。 高解像度の「正反射型変位センサ」を用い、被写界深度数μm の 特殊光学系システムにおいても、鮮明な画像を取り込むことが可能です。 |
| キーワード |
画像処理 外観検査 |
| 特徴・効果 |
検査用途： LCDモジュール製造工程での外観検査、 タッチパネル製造工程での外観検査、 携帯電話外装の射出成型品外観検査、等 |
| 新規性・優位性 |
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| 知的財産権等情報 |
電子部品検査方法およびそれに用いられる装置 特許5038191 基板検査装置 特開2011-021999 |
| その他の情報(希望提携先等) |
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| 参考図表 |
関連情報へのURL |